產(chǎn)品名稱：島津微焦點(diǎn)X射線 SMX-6010
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-05-21
產(chǎn)品特點(diǎn)：島津微焦點(diǎn)X射線 SMX-6010是一款堅(jiān)直照射型x射線檢查設(shè)備，配備了島津生產(chǎn)的微焦點(diǎn)x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測器。通過高清晰度和寬動(dòng)態(tài)范圍圖像，可以觀察到細(xì)微的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。此外，可以簡單快速地進(jìn)行透視/CT模式切換，根據(jù)工作要求實(shí)施多種觀察。Xslicer SMX-6010所覆蓋的檢查從體積不斷縮小的電子元件到密度日益提高的多層實(shí)裝基板。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
島津微焦點(diǎn)X射線 SMX-6010高清寬動(dòng)態(tài)花圍圖像
? 搭載300萬像素平板檢出
采用300萬像素平板檢出器（是老機(jī)型的2.3倍），細(xì)微的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與缺陷一覽無遺。
130萬像素平板的X射線透視圖像
（本公司老機(jī)型）
300萬像素平板的X射線透視圖像
? HDR新功能
搭載本公司HDR處理功能。
相比老機(jī)型，可獲得大動(dòng)態(tài)范圍X射線透視圖像。
穿透性好的部分與差的部分可同時(shí)觀察，能有效縮短檢查時(shí)間。
HDR處理應(yīng)用示例（左：無HDR處理、右：有HDR處理）
簡單快捷的操作性
? 3步拍攝
X射線透視拍攝僅需3步即可完成。
大型顯示器與簡便的無按鍵布局，實(shí)現(xiàn)良好的可見性與直觀的操作。
新手也可輕松進(jìn)行X射線透視檢查。
STEP 1 點(diǎn)擊更換樣品按鍵。
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STEP 2 關(guān)閉正面門扉，點(diǎn)擊開始按鍵。
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STEP 3 點(diǎn)擊外觀圖像，粗略定位。 |
? 透視?CT自由切換
通過菜單選項(xiàng)即可從透視拍攝切換至CT拍攝。
本裝置為傾斜CT儀器。讓平板檢出器傾斜并旋轉(zhuǎn)360°拍攝X射線透視圖像，重建斷面圖像。無需安裝其他單元即可完成。
CT拍攝的條件設(shè)置十分簡單，只需選擇拍攝模式、拍攝角度、拍攝視野即可。
特點(diǎn)：透視拍攝中可隨時(shí)對(duì)觀察點(diǎn)進(jìn)行拍攝和觀察。
? 快速掃描?快速重建
CT軟件“Xslicer"實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)CT拍攝開始前較準(zhǔn)作業(yè)全自動(dòng)化及快速掃描。從CT拍攝開始到斷面圖像
顯示，最快2分鐘內(nèi)完成。
? CT拍攝范圍大
在350mm×350mm范圍內(nèi)，無論哪個(gè)部位均可進(jìn)行CT拍攝。本機(jī)僅需點(diǎn)擊拍攝部位，即可確定拍攝位置，無需像傳統(tǒng)的傾斜CT那樣需要以旋轉(zhuǎn)臺(tái)為中心移動(dòng)樣品。
? 簡單的追蹤點(diǎn)設(shè)定
設(shè)定好追蹤點(diǎn)后，無論是傾斜還是旋轉(zhuǎn)，掌控觀察點(diǎn)位置，不會(huì)偏離畫面中心。
只需讓檢出器傾斜，雙擊觀察位置，即可設(shè)定追蹤點(diǎn)。
豐富的輔助檢查功能
? 教學(xué)功能
可按照登錄的教學(xué)程序，記錄任意的多個(gè)觀察位置，按照編程順序進(jìn)行透視拍攝和CT拍攝，并可對(duì)每個(gè)觀察位置進(jìn)行“OK"、“NG"、“保留"判定，并保存結(jié)果。
? 島津微焦點(diǎn)X射線 SMX-6010步進(jìn)功能
步進(jìn)功能通過指定開始位置、移動(dòng)量、移動(dòng)次數(shù)進(jìn)行編程，運(yùn)行時(shí)，按照設(shè)定從開始位置連續(xù)移動(dòng)并進(jìn)行觀察。
可對(duì)按一定間隔排列的樣品進(jìn)行連續(xù)透視或CT拍攝。
? 全景拍攝功能
只需在外觀圖像上指定拍攝范圍，即可獲得大范圍X射線透視圖像。改良圖像拼接后，畫面清晰流暢，可獲得最高3200萬像素的透視圖像。
? 自動(dòng)調(diào)整畫質(zhì)功能（AW功能?重點(diǎn)觀察范圍功能）
自動(dòng)優(yōu)化對(duì)比度設(shè)定，使在透視圖像內(nèi)指定的位置更易于辨識(shí)。通常，這種優(yōu)化功能會(huì)使重點(diǎn)觀察范圍外的部分難以辨識(shí)，但通過采用圖像處理算法，重點(diǎn)觀察范圍外的部分會(huì)自動(dòng)調(diào)整得更易于辨識(shí)。
提高作業(yè)效率的豐富的輔助功能
? BGA檢測
可檢測BGA(球珊陣列）的凹凸徑與孔隙比。
采用圖像處理算法，無需進(jìn)行復(fù)雜的參數(shù)設(shè)定。※
保存多個(gè)設(shè)定，調(diào)出各檢查對(duì)象的對(duì)象設(shè)定，也可進(jìn)行檢測。
※也有的樣品需要手動(dòng)調(diào)整。
? 尺寸測量
可以進(jìn)行2點(diǎn)間距離或者3點(diǎn)測量。
本設(shè)備的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與放大倍數(shù)聯(lián)動(dòng)，可高效地進(jìn)行尺寸測量。
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